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KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200，ET4000

日期：2026-02-09 02:00

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摘要：KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200，ET4000：針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析--KOSAKA小坂臺階儀

KOSAKA小坂臺階儀，針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析，

株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立的公司，也是日本**家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為*具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位。

全自動臺階儀ET200

*大尺寸

φ160×厚48mm

再現性

1σ 1nm以內

測定范圍

Z：600μm X：100mm

分解能

Z：0.1nm X：0.1μm

測定力

10μN～500μN

全自動臺階儀ET4000 Series

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蘇公網安備 32050502000409號

*大尺寸	φ160×厚48mm
再現性	1σ 1nm以內
測定范圍	Z：600μm X：100mm
分解能	Z：0.1nm X：0.1μm
測定力	10μN～500μN